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        涂層干膜的測定方法

        彩涂板涂層厚度測量可采用四種方法,即磁性測厚儀法、千分尺法、金相顯微鏡法和鉆孔破壞式顯微觀測法。測量方法的選擇可由供需雙方協商。

        (一)磁性測厚儀法

        本方法適用于以冷軋板、鍍鋅板為基板的彩涂板涂層厚度的測定。若涂層厚度低于3μm時,則本方法不適用。

        (二)千分尺法

        1.范圍及說明

        本方法適用于各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的測定。在千分尺測量裝置負荷下容易變形的涂層,則本方法不適用,該方法也不適用于測量過薄的涂膜,美國ASTMD 1005標準中規定膜厚不低于12.7μm。

        使用千分尺、杠桿千分尺等儀器測量涂膜厚度是通過測定彩涂板涂層去除前后厚度的差值來檢測涂層厚度。

        2.儀器和材料

        (1)千分尺:杠桿千分尺或數顯型手持式千分尺,儀器示值誤差為±0.001mm;(2)溶劑或脫漆劑(去除涂層,不腐蝕某材);(3)記號筆。

        3.測定方法

        (1)按儀器說明書進行零位校準。

        (2)在距樣板邊緣不小于10mm的區域內,選取3個不同部位做上標記,用千分尺測量標記部位的厚度并做記錄。

        (3)用適當的溶劑(或脫漆劑)去除標記處的涂膜(不能使試樣在脫膜中變形、擦傷或劃傷),然后用千分尺測量除去涂膜處基材的厚度,記錄厚度值。

        4.結果表示

        求出每個測景部位兩次厚度讀數之差,此值為該部位涂層厚度。

        三個不同測景部位涂膜厚度的算術平均值即為該試樣涂層的咚度,以微米(μm)表示。

        5.參照標準

        國家標準GB/T 13448《彩色涂層鋼板及鋼帶試驗方法》。

        (三)金相顯微鏡法 

        1.范圍及說明

        本方法適用于以各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的測定。該方法可作為仲裁試驗法。利用彩涂板斷面涂層和金屬基板的光反射率不同,從而測量彩涂板涂層厚度。

        2.儀器和材料

        (1)金相顯微鏡:測量的準確性應優于2μm;(2)適當牌號的金相砂紙;(3)固定試板用材料(如樹脂),應對漆膜無損害作用,其顏色明顯區別于涂層。

        3.測定方法

        (1)用適當的材料固定試板,制板過程應使試板與觀察面保持垂直。

        (2)打磨拋光制備的試板,使其足夠平滑,以便在顯微鏡下觀察涂層斷面。操作中注意 保持試板與砂紙面成直角。

        (3)用金相顯微鏡上的標尺測量試樣斷面5個不同部位的涂層厚度并記錄其值。

        4.結果表示

        5個不同位置涂層厚度的算術平均值即為該試板的涂層厚度,以微米(μm)表示。

        5.參照標準

        國家標準GB/T 13448《彩色涂層鋼板及鋼帶試驗方法》。

        美國標準ASTM D 4138《用破壞方式測定防護涂層體系的干膜厚度》。

        (四)鉆孔破壞式顯微觀測法

        1.范圍及說明

        本方法適用于各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的測定。當各涂層界面可清晰分辨時, 亦可適用于各涂層(底漆、面漆)厚度的分別測定。

        本方法是利用鉆孔機在彩涂板涂層中鉆出一定錐度的圓孔,通過光學顯微鏡觀測涂層, 對涂層界面進行定位,測莆出水平距離并根據錐度換算成涂層的厚度。

        2.儀器和材料

        (1)顯微測厚儀:由一個自動鉆孔裝置和一顯微視頻圖像系統組成,測量準確性應優于 涂層厚度的10%;(2)記號筆。

        3.測定方法

        (1)將試樣放在鉆孔臺上,調整自動鉆孔裝置的鉆孔深度控制輪,以使鉆頭剛好穿入基板,在試樣上鉆出一個圓形淺角縮孔。

        (2)將試樣放在測量臺上,調節顯微視頻圖像系統,使縮孔處涂層各界面均可清楚成像于視頻上。利用顯微視頻圖像系統的標尺即可直接讀出各涂層厚度。

        4.結果表示

        在所測量的縮孔中至少取3個不同測暈部位的算術平均值,即為該試樣的涂層厚度,以 微米(μm)表示。

        5.參照標準

        國家標準GB/T 13448《彩色涂層鋼板及鋼帶試驗方法》。

        美國標準ASTM D 5769《用鉆孔設備測定卷材涂層的干膜厚度》。